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    X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

    描述:品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動速度:60mm/s

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      產(chǎn)品型號:
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      廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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      更新時間:2023-10-18
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      訪問量:1116
    詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details
      X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設(shè)備。

    1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

    2.印刷線路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

    3.黃金成分分析

    4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層;

    5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng);

    6.全自動測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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